HAST 试验箱（高压加速老化试验箱）通过营造高温、高压、高湿的极端环境，加速材料与产品的老化进程，能在短时间内评估其长期可靠性，是电子、医疗等领域进行可靠性测试的核心设备。

其工作机制基于饱和蒸汽压力与温度的协同作用。HAST 试验箱内通过加热产生饱和蒸汽，使压力维持在 2-4 个大气压，温度可达 121℃-143℃，相对湿度保持 100%。这种环境能快速穿透产品表层，加速水分子对材料的侵蚀，尤其是对密封件、焊点和绝缘层的老化影响。控制系统通过精准调节加热功率与蒸汽流量，实现温度波动≤±0.5℃、压力波动≤±0.02MPa 的稳定环境，满足不同行业的加速老化测试标准。

在半导体封装测试中，HAST 试验箱用于验证芯片的密封性与耐湿性。通过 72 小时的 132℃/2.1bar 条件测试，可检测芯片封装是否存在微缝，避免水汽渗入导致的电路短路。测试后需检测芯片的电参数变化，确保其功能正常，引脚间绝缘电阻保持在 10⁹Ω 以上。

医疗器械领域中，该设备用于测试植入式电子元件的稳定性。针对心脏起搏器、神经刺激器等产品，在 121℃/1.05bar 环境下进行 100 小时加速老化，评估其密封性能与电路可靠性。测试后需验证元件的电池续航能力、信号传输精度是否符合临床标准，确保植入后长期安全运行。

电子连接器的可靠性验证依赖 HAST 试验箱。在 143℃/3.2bar 条件下进行 50 小时测试，可加速连接器触点的氧化与绝缘材料的老化。测试后需检测插拔力变化（增幅≤20%）、接触电阻（≤50mΩ）及绝缘电阻（≥100MΩ），确保连接器在潮湿环境中保持稳定导电性能。

传感器封装测试中，HAST 试验箱用于评估其耐湿热能力。对温湿度传感器、压力传感器等进行 125℃/1.2bar 条件下的 96 小时测试，检测其测量精度偏差（应≤±2%）与响应速度变化，确保在高湿环境中仍能保持精准传感性能。

HAST 试验箱通过压缩时间维度的老化测试，为半导体、医疗、电子等行业提供高效的可靠性验证方案，帮助企业提前发现产品潜在缺陷，优化封装工艺与材料选择，显著提升产品的长期使用可靠性。